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品牌型号： 赛默斐视
测量范围:厚度0-5000um
扫描精度:≤±0.2%(FS)
最大允许环境条件:最高温度60℃，相对湿度0-95%
工作原理
系统采用“O”型框架横跨整个产线，通过运动模块在产线正常时左右移动，来实现对产品整个幅面的厚度在线测量。系统采用穿透测衰减的检测方式，光子由X射线管从材料的一侧穿透到材料的另一侧，同时在通过材料下方的的接收器进行接收，当接收器接收到透射过来的X射线同时在内部形成脉冲量，从而精确且稳定的反映出被测材料的厚度。
被测材料的厚度与X射线透射到接收端内所形成的信号成线性关系。SIMV-DMF传感器可以有效的消除通常来自被测材料的位置波动，温度变化而引起的误差。
技术参数
| 参数名称 | 具体数值 |
| 测量方式 | X-SimVision穿透式传感器（测衰减） |
| 线束发生器 | X-SimVision光管 |
| 测量范围 | 厚度0-5000um |
| 探头与被测物之间的距离 | 15-50mm（标准为20mm） |
| 通讯接口 | TCP/IP（RJ45或工业以太网） |
| 定点分辨率 | 0.1-0.15um |
| 扫描精度 | ≤±0.2%（FS） |
| 响应时间 | 1-10ms（可调整） |
| 最大允许环境条件 | 最高温度60℃，相对湿度0-95% |
系统优势
| 序号 | 优势 |
| 1 | 智能传感器配以超快微处理器，对数据进行预处理 |
| 2 | 测量间隙可调整，适合各种客户的需求 |
| 3 | 采用极其高效的X射线探测器，测量精度高 |
| 4 | 坚固的放射器外壳，严格遵守安全防护规则 |
| 5 | 断电没有同位素放射性 |
| 6 | 专利测量技术，对被测量物的距离不敏感 |
| 7 | 鉴于微波谐振分析，测量高精度和高稳定性 |
| 8 | 几乎无需标定，自动精度校准 |
| 9 | 非接触式测量，不影响被测材料质量和生产工艺 |
SimVision-MFP传感器尺寸及现场安装图
