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薄膜瑕疵检测系统
薄膜瑕疵检测系统

项目背景
    薄膜作为包装材料的主要形式,已经成为工业产品不可或缺的原材料。在薄膜的生产过程中,由于生产工艺及现场环境等影响,容易造成薄膜表面出现黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷。这些缺陷不仅影响薄膜产品的外观,更重要的是降低了薄膜的使用性能。如何在生产过程中及时检出薄膜表面的瑕疵缺陷,消除生产的根源,实现控制和提高薄膜的表面质量,一直是薄膜企业追求的目标。
    现代工业生产对薄膜表面的质量提出越来越高的要求,传统的检测方法如人工目视抽检已经远远不能满足现在工业生产中高速、高分辨率和无损只能检测的要求,基于CCD的薄膜表面瑕疵检测系统与传统的人工肉眼检测相比,具有快速、可靠。准确的优点,目前已被许多薄膜企业所应用。

工作原理
    生产线正常生产时,高亮的LED线性聚光冷光源采用透射的原理照射在生产线表面(对于不透明的薄膜产品采用反射的检测原理),架设在生产线上的线阵相机进行实时同步扫描,同时系统将相机采集到的薄膜图像通过SIMV图像处理单元进行瑕疵分割处理。


    由于瑕疵图像的灰阶与正常产品的灰阶存在明显差异,从而使系统能够发现瑕疵,同时对瑕疵进行有效的判定、分类。

技术介绍
    【薄膜表面检测系统】主要用于检测薄膜在生产过程中表面出现的黑点、晶点、划伤、破洞、线条、褶皱、蚊虫等缺陷,借助于由工业CCD相机、高亮LED线性聚光光源组成的薄膜表面缺陷检测的成像系统,及时准确的反应缺陷的的图片、形状、尺寸以及位置等具体信息,在为质量控制、产品评级提供真是准确数据的同时,有效的节约了生产成本、提高了产品质量。

 检测对象 保护膜、涂布膜、光学膜、锂电隔膜、食品包装膜 
 检测幅宽 任意幅宽(根据生产线宽度进行定制) 
 检测速度 MAX:600m/min
 检测精度 0.1mm*0.1mm 
 缺陷类型  晶点、线条、黑点、蚊虫、孔洞、划伤等常见缺陷
 测宽精度  产线无纵向偏移时误差≤3mm
 缺陷标识  自动声光报警,同时在系统界面显示当前缺陷的具体图像及信息
 历史记录  记录每一卷薄膜缺陷的总数,分布的位置、大小、面积等信息

常见瑕疵图片