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2021赛默斐视SIMVISION光学薄膜瑕疵检测仪获广泛关注
2021赛默斐视SIMVISION光学薄膜瑕疵检测仪获广泛关注
发布时间:2021.11.09  浏览次数:
 

  导读:当前,光学薄膜瑕疵检测设备的研发在市场上仍处于萌芽阶段。光学薄膜需要超微细加工,精度极高,一般质检中采用人眼检测、抽检容易出现漏检的问题,从而无法保证光学薄膜厂家们的品质要求。

  在表面瑕疵检测领域中,在检测方面还是小有名气,公司在机器视觉检测领域一步一个脚印,现赛默斐视表面瑕疵检测系统已在带钢、薄膜、造纸、印刷、金属带材等行业成功应用。

  赛默斐视光学薄膜瑕疵检测仪检测方法如下:

  针对透光率高的薄膜材料,系统采用透射的打光检测方式进行检测,即光源在薄膜的下方,相机在薄膜的上方进行图像拍摄。产线运行时,系统通过编码器实时的采集产线运行状态信息并开始检测,系统将相机采集到的图像通过图像分析软件进行瑕疵处理,由于瑕疵与正常产品的图像在灰阶上存在明显差异,从而使得系统能够发现瑕疵,并通过进一步的计算、分析来确定瑕疵的大小、位置、类型等信息。

  赛默斐视光学薄膜瑕疵检测仪特点:

  1、该品种经过多次的测试,可检测常见缺陷,检测率高.

  2、能提高降等率,降级索赔率,经济效益高。以电子布为例,产量为168万米/台,总降等率为5%,GCVision拦截率为60%.

  3、所有疵点进行有效记录并自动保存相关图片.

  4、自动形成疵点统计报表.

  5、侦测到疵点时,可根据要求进行相应的动作(记录、报警、停机等).

  6、显示疵点的具体经纬位置和图片,形成疵点地图,为后期开裁提供基础数据.

  7、历史记录追溯:每卷布的各类信息可保存,可追溯。